Bewertungssystem für Isolationsverschlechterung und IonenmigrationVerwendung:
Angesichts der zunehmend kleinen leichten und dichten Verpackungen von Elektronikprodukten ist das schlechte Isolierungsphänomen und das Ionenmigrationsphänomen aufgrund von Faktoren wie Feuchtigkeitsabzug zunehmend auffällig, das Bewertungssystem für die Verschlechterung des Isolierungswiderstands (Ionenmigration) ist mit einem Hochtemperatur- und Feuchtigkeitsprüfraum verbunden, das eine kontinuierliche Überwachung mit hoher Präzision ermöglicht, die durch das Ionenmigrationsphänomen verursachte Lebensdauer und die Verschlechterung des Isolierungswiderstands effizient und einfach zu bewerten.
Bewertungssystem für Isolationsverschlechterung und IonenmigrationAnwendbare Kriterien:
JPCA-ET04, IPC-TM-650_2.6.3F, IPC-TM-650_2.6.3.1E, IPC-TM-650_2.6.3.4A, IPC-TM-650_2.6.3.6.
Bewertungssystem für Isolationsverschlechterung und IonenmigrationTechnische Daten:
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Produktname |
Bewertungssystem für Isolationsverschlechterung und Ionenmigration |
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Modell |
SIR13 |
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120VUnterplatte |
250VUnterplatte |
500VUnterplatte |
1000VUnterplatte |
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Substrate-Testabteilung |
Testwiderstandsbereich |
320Ω~120TΩ |
320Ω~2,5TΩ |
320Ω~250TΩ |
320Ω~500TΩ |
320Ω~1000TΩ |
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Anzahl der Testkanäle |
8ch/Unterplatte |
16ch/Unterplatte |
8ch/Unterplatte |
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Anschlusskabel |
2Wurzelpaar/Unterplatte 4Linear |
2Wurzelpaar/Unterplatte Lastprüfkabel×2 |
2Wurzelpaar/Unterplatte Ladekabel×1Testkabel×1 |
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Elektrische Eigenschaften |
Strom Druck hinzufügen Laden Abteilung |
Belastungsspannung |
Spannungsmessung1 |
0.10V~120.00V |
0.1V~250.0V |
1.0V~500.0V |
1.0V~1000.0V |
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Spannungsmessung2 |
0.100V~12.000V |
-- |
-- |
-- |
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Auflösung der Ladeeinstellung |
0.10V/0.001V |
0.1V |
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Basisladegenauigkeit |
±0.3%/FS |
±0.3%/FS + 0.5V/FS |
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Größere Ausgangsleistung |
96mW/h |
256mW / 8ch |
300mW/h |
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Anzahl der Gruppen laden |
1Gruppe (1 Stück/1Gruppe) |
2Gruppe (8ch/1Gruppe) |
1Gruppe (8ch/1Gruppe) |
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Ladebereich |
2Messbereich |
1Messbereich |
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Anzahl der Ladekanale |
1ch |
8ch |
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Größere Lastkapazität |
2,0μF / 1ch |
0,47μF / 8ch |
3300pF / 1ch |
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Strom Druck Anzeigen Zeige Geräte |
Anzeigebereich |
2Messbereich |
1Messbereich |
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Anzeige Bereich |
Spannungsmessung1 |
0.00V~120.00V |
0.0V~250.0V |
0.0~500.0V |
0.0V~1000.0V |
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Spannungsmessung2 |
0.000V~12.000V |
-- |
-- |
-- |
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Bildschirmauflösung |
0.10V/0.001V |
0.1V |
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Grundgenauigkeit des Displays |
±0.3%/FS |
±0.3%/FS + 0.5V/FS |
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Bildschirmteiler |
1ch |
1Gruppe oder1ch |
1ch |
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Anzeigezyklus |
40 ms |
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Anzahl der Monitorkanäle |
8ch |
16ch |
8ch |
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Strom Stream Testen Versuchen |
Testumfang |
3Messbereich |
2Messbereich |
3Messbereich |
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Anzeige Bereich |
Strommessung1 |
0,00μA~320,00μA |
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Strommessung2 |
0,0000μA~3.2000μA |
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Strommessung3 |
0,00nA~32.000nA |
-- |
0.000nA~32.000nA |
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Messbereicheinstellungen |
320,00μA · 3,2000μA ·32.000nA·automatisch |
320,00μA·3,2000μA·automatisch |
320,00μA·3,2000μA·32,000nA·automatisch |
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Kleinere Auflösung testen |
Strommessung1 |
10nA |
10nA |
10nA |
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Strommessung2 |
100pA |
100pA |
100pA |
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Strommessung3 |
1pA |
1pA |
1pA |
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Grundprüfgenauigkeit |
±0.3%/FS |
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Anzahl der Kanäle |
8ch |
16ch |
8ch |
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Datenerfassungszyklus |
Regelmäßig30er Jahre(kleiner)/Bei der Ionenmigration40 ms(kleiner) |
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Ionenmigrationstest Geschwindigkeit |
40 ms |
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Leckage erkannt |
400 μs/h |
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Testzyklus |
40 ms |
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Weitere Funktionen |
Selbst diagnostizieren |
Externe Standardwiderstandsdiagnose ※Auswahl |
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Ketten |
Testen der automatischen Unterbrechungsfunktion bei geöffneter Gehäusetür ※Auswahl |
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Trennung erkannt |
Terminal-Trennungserkennung |
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Temperatur und Feuchtigkeit im Testbehälter erfassen |
Zusätzliche Temperatur- und Feuchtigkeitsprüfplatten3CS·schlüssellosGrößere Software kann aufgenommen werden4Slot Daten ※Auswahl |
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Probentemperaturerfassung |
durch3CS SMUJeder Kanal kann aufgenommen werden.1Ein Punkt. ※Auswahl |
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Größere Systemzusammensetzung |
SIR13 |
80ch(10Unterplatte) |
160ch(10Unterplatte) |
80ch(10Unterplatte) |
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SIR13mini |
24 Stunden(3Unterplatte) |
48ch(3Unterplatte) |
24 Stunden(3Unterplatte) |
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Kontrollabteilung |
Systemsteuerung Computer |
Windows XP Pro. SP2Geeignet fürWindows 2000)Pentium 500 MHzoben Speicher256Mbyteoben |
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Verbindungen zur Testabteilung |
GP-IBoderEthernet |
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andere |
Stromausfall |
Speichert die aufgenommenen Daten vor Stromausfall und kann die Aufzeichnung nach Stromausfall fortsetzen ※Ununterbrechende Stromversorgung muss |
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Steuereinheit |
Strukturtyp |
SIR13 |
SMU 10Slot-Typ Abmessungen: W430 × H300 × D620※Enthält keinen Vorsprung Gewicht: ca.30 kg(SMU 10bei der Ausrüstung) Stromverbrauch:5AFolgendes (100Vbei der Verwendung) |
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SIR13mini |
SMU 3Slot-Typ Abmessungen: W220 × H370 × D390※Enthält keinen Vorsprung Gewicht: ca.20 kg(SMU 3bei der Ausrüstung) Stromverbrauch:2AFolgendes (100Vbei der Verwendung) |
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Geräuschbeständigkeit |
1 μsPulse2KV 1Minute |
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Isolierungswiderstand |
DC500V 100MΩoben |
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Stromversorgung verwenden |
AC85V~264V 50/60Hz |
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Umgebung verwenden |
Temperatur+10℃~+40℃ Luftfeuchtigkeit75%RHFolgendes (ohne Verknüpfung) |
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Umweltschutz |
Temperatur-10℃~+ 60℃ |
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