Der Helios 5 DualBeam von Symantec bietet leistungsstarke Bildgebungs- und Analyseleistungen aus der Helios 5 Produktreihe. Es wurde entwickelt, um die Bedürfnisse von Materialwissenschaftlern und Ingenieuren für eine breite Palette von FIB-SEM-Anwendungen, auch für anspruchsvolle Proben, zu erfüllen.

Helios 5 DualBeam definiert die Standards für hochauflösende Bildgebung neu: Materialkontrast, schnelle, einfache und präzise Probenvorbereitung in hoher Qualität für S/TEM-Bildgebung und Atomsonde-Tomografie (APT) sowie Sub-Oberflächen- und 3D-Charakterisierung. Auf der Grundlage der bewährten Leistung der Helios DualBeam-Serie wurde Helios 5 DualBeam verbessert und optimiert, um sicherzustellen, dass das System manuell oder automatisiert funktioniert.

Technische Parameter der Halbleiterindustrie:

Technische Parameter der Materialwissenschaft:

Einfacher zu bedienen:

Helios 5 ist ein benutzerfreundliches DualBeam-System für Benutzer aller Erfahrungsstufen. Die Schulung der Bediener kann von Monaten auf Tage verkürzt werden und das System ist so konzipiert, dass alle Bediener konsistente, wiederholbare Ergebnisse in einer Vielzahl von Anwendungen erzielen können.

Steigerung der Produktivität:

Die fortschrittlichen Automatisierungsfunktionen, Zuverlässigkeit und Stabilität der Helios 5- und AutoTEM 5-Software ermöglichen unbewachten und sogar nachtlichen Betrieb und verbessern den Probenvorbereitungsfluss erheblich.

Verbesserung der Zeit und der Ergebnisse:

Helios 5 DualBeam führt die FLASH-Technologie mit feiner Bildanpassung ein. Mit der FLASH-Technologie können Sie einfach die Maus in der Benutzeroberfläche bedienen, sodass das System „Echtzeit“ zum Verschwinden, Zentrieren und Fokussieren des Bildes fähig ist. Die automatische Anpassung verbessert den Durchfluss, die Datenqualität und vereinfacht die Erfassung von hochwertigen Bildern erheblich. Durchschnittlich verkürzt die FLASH-Technologie die Zeit, die benötigt wird, um ein optimiertes Bild zu erhalten.