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Helios 5 Laser PFIB Doppelstrahlmikroskop
ThermoScientificHelios5LaserPFIB Großvolumen-3D-Analyse, Ga-freie Probenvorbereitung und Präzisionsmikrobearbeitung
Produktdetails

Thermo Scientific ™ Helios ™ 5 Laser PFIB Großvolumen 3D-Analyse, Ga-freie Probenvorbereitung und Präzisionsmikrobearbeitung. Mit einem innovativen, vollständig integrierten Phytosekundenlaser, der Material Entfernungsrate und Schnittflächengüte bietet, ist ein qualitativ hochwertiges Sub-Oberflächen- und dreidimensionales Charakterisierungsgerät mit Nanoauflösungen im Millimeterbereich.

Fifto-Sekunde-Laser PFIB

Zui großes Volumen: 2000 × 2000 × 1000 μm3
Zui Stromstrom: ~ 1mA (Äquivalent zum Ionenstrahlstrom)
Schnittstrom: 74 μA
Strahlengröße: 15μm
Laser-Integration: 3 Strahlen (SEM / PFIB / Laser) sind vollständig in den Probenraum integriert und haben den gleichen Überlappungspunkt,
Genaue, wiederholbare Schnittpositionen und dreidimensionale Charakterisierung.
Einmalige Harmonie: Wellenlänge 1030 nm (Infrarot), Impulsbreite <280 fs
Sekundäre Harmonie: Wellenlänge 515 nm (grün), Impulsbreite < 300 fs
Elektronische Optik:
☆ Drei Strahlüberlappungspunkte WD = 4 mm (identisch mit SEM/FIB)
Variables Objektiv (elektrisch)
☆ Polarisation: horizontal / vertikal
Wiederholungsrate: 1 kHz bis 1 MHz
Beam Positionierung Genauigkeit: < 250 nm
Schutzscheiben: Automatische SEM/PFIB Schutzscheiben
Software:
☆ Lasersteuerungssoftware
☆ Laser 3D kontinuierlich schneiden Arbeitsablauf
☆ EBSD Laser 3D kontinuierlichen Schnitt Arbeitsablauf
☆ Laserprogrammierung Steuerung Skript*
Sicherheit: Verriegelbarer Laserschutz (Lasersicherheit Klasse 1)

Eigenschaften und Anwendungen:

☆ mm Querschnittsmaterial Entfernung, Material Entfernungsrate 15.000 Mal schneller als typische Ga + FIB
☆ Durch die Erfassung größerer Volumen in kürzerer Zeit statistisch relevante Unterflächen- und 3D-Datenanalysen ermöglichen
☆ Präzise, wiederholbare Schnittposition, drei Bündel auf dem gleichen Punkt auf der Probe
☆ Durch die Extraktion von TEM-Flächen oder Blöcken unter der Oberfläche für eine dreidimensionale Analyse erreichen
☆ hohe Durchsatzverarbeitung anspruchsvoller Materialien wie nicht leitender oder Ionenstrahlempfindlicher
☆ Schnelle und einfache Charakterisierung von luftempfindlichen Proben ohne die Notwendigkeit, Proben zwischen verschiedenen Instrumenten zu übertragen, um sie zu bilden und Querschnitte zu erhalten
Alle Funktionen der Helios 5 PFIB-Plattform sind sehr zuverlässig, einschließlich hochwertiger galliumfreier TEM- und APT-Probenvorbereitung sowie hochauflösender Bildgebung

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Erfolgreicher Betrieb!

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