Elektrochemisches Mikrosystem (SECM)

AC-Scan Elektrochemisches Mikroskopsystem (ac-SECM)

Intervallkontakt-Scan-Elektrochemisches Mikroskopsystem (ic-SECM)

Mikrozonale elektrochemische Impedanzprüfsysteme (LEIS)

Scanning Vibration-Klick-Testsystem (SVET)

Elektrolytmikrotropfen-Scan-System (SDS)

Mikrotropfenscannsystem für Wechselstromelektrolyte (ac-SDS)

Scan Kelvin Probe Testsystem (SKP)

Berührungsloses Mikrozonenprüfsystem (OSP)

Ausgezeichnete Leistung

Das schnelle und präzise geschlossene Positionierungssystem wurde speziell für die Anforderungen der nanoskaligen Forschung mit elektrochemischen Scansonden entwickelt. In Kombination mit der einzigartigen Hybrid-32-Bit-DAC-Technologie von Uniscan können Anwender die optimale Konfiguration für experimentelle Studien auswählen

Fortgeschrittene und flexible Arbeitsplattform

Das System bietet neun Sondenechnologien an, was die M470 zu der flexibelsten Elektrochemie-Scanning-Plattform für Beachstädte weltweit macht.

Komplettes Zubehör

Optional sind sieben Module, drei verschiedene Elektrolytenpools, verschiedene Sonden, Langstreckenmikroskop und Nachbearbeitungsdatenanalyse-Software.

M470 neue Produkteigenschaften

SECM Automatische Bearbeitungskurven

SECM Benutzerdefinierte Bearbeitungskurvenschrittänderungen

Hochauflösendes Lesen

Manuelle oder automatische Phaseneinstellung

M470 verfügt über folgende Eigenschaften:

Neigungskorrektur

X- oder Y-Kurven-Reduktion (5. Reihe Polynomen)

Schnelle Fourier-Veränderungen in 2D oder 3D

Automatische Sortierung von Experimenten, Sondenbewegungen und Bereich-Zeichnungen

Grafische Experimentale Sequenzierungsmaschine (GESE)

Unterstützung für Multi-Region-Scans

Mehrere Datenansichten für alle Experimente

Spitzenanalyse

Das M470 ist ein von Uniscan Instruments entwickeltes Scansondensystem der vierten Generation mit höheren Spezifikationen und mehr Sondenechnik.

Technische Parameter des M470

Arbeitsstationen (alle Technologien)

Scanbereich (x, y, z) größer als 100 mm

Scantreiber Auflösung bis zu 0,1 nm

Closed-Loop-Positionierung Linearer Zero-Delay-Encoder mit direktem Echtzeit-Auslesen von x-, z- und y-Verschiebungen

Achsoplösung (x, y, z) 20nm

Maximale Scangeschwindigkeit 12,5 mm/s

Messauflösung 32-Bit-Decoder @ bis zu 40MHz

Pinezoelektrik (IC- und AC-Scan-Sondenechnik)

Schwingungsbereich 20nm ~ 2μm Zunahme von 1nm zwischen Spitzen und Spitzen

Minimale Vibrationsauflösung 0,12 nm (16-Bit DAC, 4 μm)

Piezokristalldehnung 100μm

Positionierungsauflösung 0,09 nm (20-Bit DAC, 100 μm)

Elektromechanik

Scanfront 500 × 420 × 675mm (H × B × D)

Scan-Steuereinheit275× 450 × 400 mm (H × W × D)

Leistung250W